目錄:日立科學儀器(北京)有限公司>>電子顯微鏡 (SEM/TEM/STEM)>> TM系列專用能譜儀(EDS) Quantax75
操作簡單且直觀
僅需選擇圖像和模板,即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時,實時顯示點分析、線分析結果等多種分析。

可根據點位置移動實時追蹤譜圖,輕松確認目標元素。

分離出常規面分布圖像中的譜峰重疊元素,并顯示正確結果。

| 項目 | 內容 |
|---|---|
| 探測器類型 | 硅漂移探測器 |
| 探測器面積 | 30 mm2 |
| 能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα時不高于129 eV) |
| 可檢測元素 | B5~Cf98 |